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原子力显微镜

原子力显微镜

简要描述:原子力显微镜(Atomic force microscopy)是一种以物理学原理为基础,通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。

产品型号: HG13- NanoFirst-2000

所属分类:·显微镜系列

更新时间:2015-11-16

详细说明:

原子力显微镜  悬臂反射原子力显微镜  探针

型号:HG13- NanoFirst-2000


产品先容:

(Atomic force microscopy)是一种以物理学原理为基础,通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。一般利用探针对样品扫描,探针固定在对探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光,zui后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。  
产品特点:
计算机全数字化控制,操作简捷直观。  
步进马达自动进行针尖--样品逼近,保证实验圆满成功。  
深度陡度测量,三维显示。  
纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。  
X、Y二维样品移动平台,快速搜索样品区域.  
标准RS232串行接口,无需任何计算机卡  
样品观测范围从0.001um-20000um。  
扫描速度达40000点/秒  
可选配纳米刻蚀功能模块。  
技术指标:  
AFM探头  
样品尺寸:直径小等于30mm;厚度小等于15mm。  
XYzui大扫描范围:标准6X6微米  
0.25nm  
0.03nm(云母定标)  
XY二维样品移动范围:5mm;精度0.5微米  
扫描器、针尖座智能识别  
44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配)  
AFM电化学针尖块,液电池,液体轻敲式成像功能(选配)  
全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台(选购)

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